Dummy Wafer(Test Wafer)半导体测试片假片硅晶片

Dummy Wafer也被称为Test Wafer，中文名称为测试片/假片，在实际生产之前，需要对整个生产线中的设备和其他生产条件作出评估和测试，提高稳定性，会预先使用Dummy Wafer假片来进行测试，与Prime Wafer（正片）有区别。

Dummy Wafer在实验检查、评估传输以及加工形状等条件中都会被使用到，因此Dummy Wafer假片被广泛应用到半导体生产制造的流程中，其厚度、镀膜厚度，Pinball指标，光屈率，耐压性等指标都很重要。

迈斯卡德拥有独特渠道，能够为广大高校、实验室以及厂商长期供应质量稳定，价格公道的测试片。

【产品名称】：Dummy Wafer(Test Wafer)半导体测试片假片硅晶片

【尺寸】：4″、5″、6″、8″、12″

【类型/掺杂】：P/N 型    

【正面/反面】：抛光/刻蚀处理

【粒子】：≥0.2um@≤30ea

【电阻】：1-100 ohm-cm

【应用领域】：测试&研发&实验

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