晶圆测试 (CP测试)

Chip Probing

迈斯卡德能够在晶圆测试（Wafer Probing）中为客户提供技术支撑服务，为客户提供各式高阶探针卡的设计、制造一条龙服务，客制化方案解决不同问题。迈斯卡德拥有悬臂式探针卡、垂直式探针卡、薄膜探针卡等多种外观的探针卡；适用于DRAM, S-RAM, NAND FLASH, NOR FLASH, L.D.I, LSI, CIS, Logic Device and so on 等各类应用场景。