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探针卡Probe Card

探针卡是公司的主要产品，可以适用于半导体CP测试，FPD测试

Nand Flash 300mm 用 MEMS探针卡

此薄膜探针可用于DRAM测试，Nand Flash 300mm 测试

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移动DRAM用 MEMS探针卡

此薄膜探针可用于DRAM测试，Nand Flash测试

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DDI/LDI 探针卡

本探针卡适用于LCD Drive IC，以及Display Drive IC test

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WAT（晶圆接受测试）探针卡

用于晶圆接受测试，WAT（wafer acceptance test)，low leakage test.

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非储存类芯片悬臂式探针卡Non Memory Cantilever Porbe Card

用于非储存类芯片测试，悬臂式探针卡需结合设备使用，耐用，质量高，可靠性强。

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垂直式 LSI 40 探针卡

可适用于LSI系统，(SOC Flip Chip). CIS, Bump pad. 储存体（Memory Devices）, Fine pitch LDI等。

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