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IC测试FPD测试用可自动更换探针薄膜探针Auto Changeable Contactor
此薄膜探针可用于Micro LED/OLED/AMOLED等平面显示器测试,也可以用于IC 晶圆测试,出厂测试,最大特点是可自动更换探针,省去人工操作的繁琐过程,提升工作效率。
넶1624 ¥ 0.00 -
IC测试FPD测试用J形薄膜探针
薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜,将其制作微小化,轻量化,达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测(Chip Probing),出厂测试(Final Test),以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器(Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。
넶2180 ¥ 0.00 -
IC测试FPD测试用薄膜弧形探针
薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜,将其制作微小化,轻量化,达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测(Chip Probing),出厂测试(Final Test),以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器(Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。
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12 inch Dummy Wafer 8寸测试晶圆假片 12 inch Test wafer
迈斯卡德供应12 inch Dummy Wafer半导体假片,满足不同研发实验需求。
넶3311 ¥ 0.00 -
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硅片薄膜涂层服务(Thin Film Silicon Wafer Coating)
迈斯卡德供提供薄膜硅片涂层服务(Thin Film Silicon Wafer Coating),SiON,SiO,AL金属或者其他材料的薄膜涂层服务
넶584 ¥ 0.00
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