迈斯卡德拥有日本原厂供货优势，能够为广大厂商、院校、研究所提供测试片、假片、外延片、焊线测试晶圆、以及正片等，价格以及货源稳定。

假片/测试片

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迈斯卡德有能力为半导体以及光电行业提供高标准、搞要求的薄膜探针，能够应用于OLED以及FPD测试，BGA薄膜探针，探针卡中介板等，可根据客户需求定制FPCB厚度。

薄膜探针

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探针卡

迈斯卡德依托技术优势提供各类探针卡，包括储存类芯片和逻辑类芯片，提供定制化解决方案，真诚服务每一位客户。

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  • MicroLED测试用3um针头薄膜探针

    此探针针头最细可达3um，可适用于MicroLED的测试，能够有效精确的接触到待测物

    넶2331 ¥ 0.00

  • IC测试FPD测试用可自动更换探针薄膜探针Auto Changeable Contactor

    此薄膜探针可用于Micro LED/OLED/AMOLED等平面显示器测试，也可以用于IC 晶圆测试，出厂测试，最大特点是可自动更换探针，省去人工操作的繁琐过程，提升工作效率。

    넶1624 ¥ 0.00

  • IC测试FPD测试用J形薄膜探针

    薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜，将其制作微小化，轻量化，达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测（Chip Probing)，出厂测试（Final Test），以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器（Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。

    넶2180 ¥ 0.00

  • IC测试FPD测试用薄膜弧形探针

    薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜，将其制作微小化，轻量化，达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测（Chip Probing)，出厂测试（Final Test），以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器（Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。

    넶1152 ¥ 0.00
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