迈斯卡德拥有MicroLED一站式测试解决方案，Micro LED E/L测试设备可以同时对单个的Die进行电学/光学测试，同时可支持定制，进行多点同时测试，能够在几小时之内测完一片百万级MicroLED wafer, 本方案目前全球少有，关键技术为超高精度的测试底座以及特殊的测试算法， 设备的测试探针最低可达3um，充分满足MicroLED的测试要求。