薄膜探针FPCB
软性薄膜探针，“J”型探针更能适应测试需求，有高寿命，接触精准，不伤害被测物，形状可定制等特征。
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MicroLED测试用3um针头薄膜探针
此探针针头最细可达3um，可适用于MicroLED的测试，能够有效精确的接触到待测物¥ 0.00立即购买
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IC测试FPD测试用可自动更换探针薄膜探针Auto Changeable Contactor
此薄膜探针可用于Micro LED/OLED/AMOLED等平面显示器测试，也可以用于IC 晶圆测试，出厂测试，最大特点是可自动更换探针，省去人工操作的繁琐过程，提升工作效率。¥ 0.00立即购买
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IC测试FPD测试用J形薄膜探针
薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜，将其制作微小化，轻量化，达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测（Chip Probing)，出厂测试（Final Test），以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器（Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。¥ 0.00立即购买
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IC测试FPD测试用薄膜弧形探针
薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜，将其制作微小化，轻量化，达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测（Chip Probing)，出厂测试（Final Test），以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器（Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。¥ 0.00立即购买
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IC测试FPD测用3排列薄膜探针接触器
薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜，将其制作微小化，轻量化，达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测（Chip Probing)，出厂测试（Final Test），以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器（Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。¥ 0.00立即购买
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IC测试FPD测试用单排列薄膜探针接触器
薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜，将其制作微小化，轻量化，达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测（Chip Probing)，出厂测试（Final Test），以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器（Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。¥ 0.00立即购买
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