关于我们

武汉迈斯卡德微电子科技有限公司

联合韩国、日本、中国台湾团队，武汉迈斯卡德微电子科技有限公司于2017年7月在湖北省自贸区武汉片区未来科技城成立，结合上游供应链的良好合作关系以及自有的过硬技术，迈斯卡德有能力专注于为半导体产业以及光电产业提供测试解决方案支持。

迈斯卡德专注于为OLED等显示面板(Fleat Panel Display Test)和半导体测试（Semiconductor Test)提供测试设备支持。在OLED老化测试，MicroLED E/L测试，Wafer Probing晶圆测试和Final Test成品测试中有较强的技术能力，能够为企业定制解决方案。

公司主要产品有：各式探针卡(Probe Card)，高阶PCB载板，各类弹性薄膜探针(Film Contactor)，OLED老化测试设备（OLED Aging Machine)，MicroLED E/L测试设备，面板测试Pallet, 信号发生器(Pattern Generater)等......

查看产品

12年行业经验，拥有来自台湾，韩国的技术团队，能够在CP测试，FT测试，FPD测试中提供解决方案。

12+
良好的技术能力能够为客户提供满意的解决方案，以客户为中心的经营理念，保证产品质量稳定，交期准时，客户满意

100%
20+

超过20人国际化研发团队，对企业需求快速相应，提供定制化解决方案。
5+

在重庆，成都，武汉，昆山，台湾皆设有办事处，能够在长江经济点快速相应，满足客户需求。

我们的优势

Our advantage

提供集成电路/光电测试服务解决方案

Semiconductor/Opto Test Solution Provider

联系我们

测试用硅片/假片

供应测试用的测试片，假片，Dummy Wafer, Test Wafer, Monitor Wafer等，拥有独家资源渠道，满足特殊需求
各类薄膜探针/接触器

拥有强大研发能力，可提供诸如”J“形的薄膜探针，也可提供适用于MicroLED测试的低至3um的超细微米级探针，适用于光电/半导体测试的各个环节。
由台湾多年从业经验人员操刀，提供高阶多层PCB板的设计，应用于探针卡以及其他光电，半导体领域，迈斯卡德提供设计，制造全套服务。

PCB载板设计制造

晶圆测试（Wafer Probing)

我们提供包括悬臂式探针卡(Cantilever Probe Card)、垂直探针卡(Vertical Probe Card)、WAT探针卡、MEMS探针卡(MEMS Probe Card)等多种探针卡，针对各类晶圆测试
IC成品测试(Final Test)

提供Final Test中所需的大部分支撑设备，包括Load Board, Burn In, Burn Out所需PCB板，Socket等产品的设计，制造服务。
平面显示器测试

为OLED提供Aging (老化测试)设备支持，同时提供薄膜探针，适应不同情况下的测试。为MicroLED提供E/L测试解决方案，目前市场处于领先地位。