测试用硅片/假片

供应测试用的测试片，假片，Dummy Wafer, Test Wafer, Monitor Wafer等，拥有独家资源渠道，满足特殊需求

各类薄膜探针/接触器

拥有强大研发能力，可提供诸如”J“形的薄膜探针，也可提供适用于MicroLED测试的低至3um的超细微米级探针，适用于光电/半导体测试的各个环节。

由台湾多年从业经验人员操刀，提供高阶多层PCB板的设计，应用于探针卡以及其他光电，半导体领域，迈斯卡德提供设计，制造全套服务。

PCB载板设计制造

晶圆测试（Wafer Probing)

我们提供包括悬臂式探针卡(Cantilever Probe Card)、垂直探针卡(Vertical Probe Card)、WAT探针卡、MEMS探针卡(MEMS Probe Card)等多种探针卡，针对各类晶圆测试

IC成品测试(Final Test)

提供Final Test中所需的大部分支撑设备，包括Load Board, Burn In, Burn Out所需PCB板，Socket等产品的设计，制造服务。

平面显示器测试

为OLED提供Aging (老化测试)设备支持，同时提供薄膜探针，适应不同情况下的测试。为MicroLED提供E/L测试解决方案，目前市场处于领先地位。