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联合韩国、日本、中国台湾团队,武汉迈斯卡德微电子科技有限公司于2017年7月在湖北省自贸区武汉片区未来科技城成立,结合上游供应链的良好合作关系以及自有的过硬技术,迈斯卡德专注于为半导体产业以及光电产业提供测试解决方案支持。
迈斯卡德为OLED等显示面板(Flat Panel Display Test)和半导体测试(Semiconductor Test)提供测试设备支持。在面板测试,MicroLED E/L测试,Wafer Probing晶圆测试和Final Test成品测试中有较强的技术能力,能够为企业定制解决方案。
公司主要产品有:各式探针卡(Probe Card),高阶PCB载板,各类弹性薄膜探针(Film Contactor),Porbe Unit,MicroLED E/L测试设备等...
行业资讯/Industry information
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晶圆探针卡与测试IC芯片有什么关系,一篇文章帮你弄懂
在集成电路测试中,探针卡起着接触晶圆表面金属焊盘的重要作用。IC 由称为测试仪的大型机器进行测试,该机器向每个 IC 发送一系列电信号。
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探针卡测试卡前十企业排名图表展示及分析说明,看行业龙头都是哪些企业
世界上第一张探针卡由日本公司JEM于1960年发明,结合半导体产业的发展趋势,探针卡市场在美国,日本,韩国和中国台湾地区先后繁荣。
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详细解读什么是探针卡以及它的使用原理是什么?
探针卡(probe card)又称晶元探针卡,目前晶圆测试厂广泛用于晶圆测试的探针卡为悬臂探针卡及垂直探针卡。
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全球首发!柔宇科技发布了全球第一款可折叠手机
当三星、华为的折叠手机方案还在试验阶段的时候,柔宇科技却捷足先登,为世人呈现了第一部可折叠手机。31日下午15时左右,柔宇科技召开全球新品发布会,现场推出其研究多年的FlexPai(柔派)折叠手机。
产品介绍/ Product
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Micro LED 光学/电学测试设备
迈斯卡德拥有MicroLED一站式测试解决方案,Micro LED E/L测试设备可以同时对单个的Die进行电学/光学测试,同时可支持定制,进行多点同时测试,能够在几小时之内测完一片百万级MicroLED wafer, 本方案目前全球少有,关键技术为超高精度的测试底座以及特殊的测试算法, 设备的测试探针最低可达3um,充分满足MicroLED的测试要求。 -
Nand Flash 300mm 用 MEMS探针卡
此薄膜探针可用于DRAM测试,Nand Flash 300mm 测试 -
移动DRAM用 MEMS探针卡
此薄膜探针可用于DRAM测试,Nand Flash测试 -
DDI/LDI 探针卡
本探针卡适用于LCD Drive IC,以及Display Drive IC test -
WAT(晶圆接受测试)探针卡
用于晶圆接受测试,WAT(wafer acceptance test),low leakage test. -
非储存类芯片悬臂式探针卡Non Memory Cantilever Porbe Card
用于非储存类芯片测试,悬臂式探针卡需结合设备使用,耐用,质量高,可靠性强。 -
MicroLED测试用3um针头薄膜探针
此探针针头最细可达3um,可适用于MicroLED的测试,能够有效精确的接触到待测物 -
IC测试FPD测试用可自动更换探针薄膜探针Auto Changeable Contactor
此薄膜探针可用于Micro LED/OLED/AMOLED等平面显示器测试,也可以用于IC 晶圆测试,出厂测试,最大特点是可自动更换探针,省去人工操作的繁琐过程,提升工作效率。 -
IC测试FPD测试用J形薄膜探针
薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜,将其制作微小化,轻量化,达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测(Chip Probing),出厂测试(Final Test),以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器(Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。
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