Micro LED 光学/电学测试设备
迈斯卡德拥有MicroLED一站式测试解决方案,Micro LED E/L测试设备可以同时对单个的Die进行电学/光学测试,同时可支持定制,进行多点同时测试,能够在几小时之内测完一片百万级MicroLED wafer, 本方案目前全球少有,关键技术为超高精度的测试底座以及特殊的测试算法, 设备的测试探针最低可达3um,充分满足MicroLED的测试要求。
【产品名称】:Micro LED测试设备
【支持Wafer尺寸】:4、6寸
【支持测量项目】:IR1, IR2, IR3, Vf1, Vf2, Vf3, CCx, CCy, Radio Metric, Photo Electric, Peak WL, WD, AD Count
【设备外观】: