移动DRAM用 MEMS探针卡
此薄膜探针可用于DRAM测试,Nand Flash测试
【产品名称】:移动DRAM用 MEMS探针卡
【材料】:镍合金
【针头形状】:圆形
【可接受最小Pad间距】:>600um
【DUT Parellel】:System LSI。SOC超过2个Para
Nand Flash 300mm One-Touch Down
【测试频率】:>70Mhz
【最大电压】:150VDC
【最大电流】:800mA(推荐)
【维氏硬度】:500~550
【压力(g/mm²)】:2.5g(Standard)
Adjustable by customer needs
【对位精度】:±4um
【针尖长度】:250±20um
【工作温度】:-20°C~130°C
【最大OD】:100um
【产品图片】:
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