WAT（晶圆接受测试）探针卡

【产品名称】：WAT（晶圆接受性测试）探针卡

【类型】：垂直式探针卡（vertical probe card）

【共面度】<8um

【准度】：±4um

【针尖形状】：圆形

【接触电压】<4Ω

【漏电电流】：10V F

【针尖长度】：250±20um

【工作温度】：-40°C~150°C

【寿命】：超过100万次

【最大电流】：500mA

【Min, pad Pitch (Both side Fan-out) 】: 30um/ Single side: 60um   

【Min, pad Pitch (Both side Fan-out)】: 60um ( Coaxial needles) 

【 Min, pad Pitch (Both side Fan-out)】: 120um ( Coaxial needles)

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武汉迈斯卡德微电子科技有限公司

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