MEMS薄膜探针卡|Probe Card|集成电路及光电测试解决方案
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高阶探针卡 Advanced Probe Card
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非储存类芯片悬臂式探针卡Non Memory Cantilever Porbe Card
非储存类芯片悬臂式探针卡Non Memory Cantilever Porbe Card
用于非储存类芯片测试，悬臂式探针卡需结合设备使用，耐用，质量高，可靠性强。
【产品名称】：非储存类芯片用悬臂式探针卡
【类型】：悬臂式探针卡（cantilever probe card）
【窄边距Fine Pitch】：支持
【针尖尺寸】：8-30um（可根据客户需求进行定制）
【电阻】：少于4Ω
联系方式：
武汉迈斯卡德微电子科技有限公司
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