MicroLED测试用3um针头薄膜探针
此探针针头最细可达3um,可适用于MicroLED的测试,能够有效精确的接触到待测物
【产品名称】:IC测试FPD测试用可自动更换探针薄膜探针Auto Changeable Contactor
【最大特点】:有自动更换探针的功能
【使用寿命】:超过200,000次
【针头大小】:最小3um
【更换频率】:超过2周
【测试良率】:99%(2nd Test Result by Samsung)
【短路影响】:仅薄膜探针损坏(不损害被测物)
【排列方式】:可依据客户需求定制
【产品特点】:
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本探针卡使用先进薄膜工艺制造,针头细且柔软,有弹性,能够准备接触到被测物(DUT)同时不影响产品表面,较少或几乎没有划痕。
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“J”型设计使得探针能够自带减压属性,更好适应检测环境。
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使用寿命高,能够制作较细小的间距,
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能在测试过程中产生较高的良率,适合大量产出的作业
【产品图片】:
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