IC测试FPD测试用可自动更换探针薄膜探针Auto Changeable Contactor

【产品名称】：IC测试FPD测试用可自动更换探针薄膜探针Auto Changeable Contactor

【最大特点】：有自动更换探针的功能

【使用寿命】：超过200,000次

【PIN间距】：最小40um

【更换频率】：超过2周

【测试良率】：99%（2nd Test Result by Samsung)

【短路影响】：仅薄膜探针损坏（不损害被测物）

【排列方式】：可依据客户需求定制

【产品特点】：

•     本探针卡使用先进薄膜工艺制造，针头细且柔软，有弹性，能够准备接触到被测物（DUT）同时不影响产品表面，较少或几乎没有划痕。

• “J”型设计使得探针能够自带减压属性，更好适应检测环境。

•     使用寿命高,能够制作较细小的间距,

• 能在测试过程中产生较高的良率,适合大量产出的作业

【产品图片】：

联系方式：

武汉迈斯卡德微电子科技有限公司

地址：中国（湖北）自贸区武汉片区高新大道999号未来科技城海外人才大楼A座18楼1857室

电子邮箱: lucas@memscard.com

网站: http://www.memscard.com

座机：027-65384089