IC测试FPD测试用薄膜弧形探针
薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜，将其制作微小化，轻量化，达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测（Chip Probing)，出厂测试（Final Test），以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器（Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。
【产品名称】：IC测试FPD测试用薄膜弧形探针
【使用寿命】：超过200,000次
【PIN间距】：最小40um
【更换频率】：超过2周
【测试良率】：99%（2nd Test Result by Samsung)
【短路影响】：仅薄膜探针损坏（不损害被测物）
【排列方式】：可依据客户需求定制
【产品特点】：
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本探针卡使用先进薄膜工艺制造，针头细且柔软，有弹性，能够准备接触到被测物（DUT）同时不影响产品表面，较少或几乎没有划痕。
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“J”型设计使得探针能够自带减压属性，更好适应检测环境。
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使用寿命高,能够制作较细小的间距,
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能在测试过程中产生较高的良率,适合大量产出的作业
联系方式：
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